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我們專注于橫向干涉測量法，它是最敏感的光纖測量技術。因為測量是橫向執行（通過光纖的端口），所以它從本質上是無損檢測。雖然光纖的高分子涂層或者緩沖區必須被去除，光纖本身仍然可以繼續傳輸測量中的光信號，同時如果必要的話那些高分子涂層在光纖測量之后可以被完全恢復。光纖折射率分析儀可以對光纖樣品進行單波長、多波長的1D、2D測量，獲得任何類型光纖的折射率、應力和幾何形狀數據。
產品特點
- 多波長
- 無劈開要求
- 亞微米空間分辨率
- 適用于任何形式光纖
- 快速測量
- 可測量接頭、錐度、耦合器
| 折射率精度 | ±0.0001 |
| 空間分辨率 | ~500 nm |
| 測量波長范圍 | 500 nm-1 μm |
| 光纖直徑 | 40 μm-400 μm |
| 光纖材料 | 石英，非石英，塑料 |
| 測量同心度誤差 | ±200 nm |
| 測量纖芯非圓度誤差 | ±0.4% |
| 可測光纖類型 | 單模, 多模, 微結構 (PCF), PM, 多芯, 稀土, 包層泵浦, 大模面積, 彎曲損失, 高-Δ, 等. |
可選項
- 測量在紅外范圍內的特定波長(900nm到2000nm)，需要選擇IFA-100-IR版。
- 多波長測量500nm～1000nm范圍內選擇，需要購買IFA-100-MW選項。
- 多波長測量900nm～2000nm范圍內選擇，需要使用IFA-100-IR版本和購買IFA-100-MW選項。
- 測量直徑超過420μm的光纖，需要購買IFA-100-LD選項。
- 基于光纖雙折射測量特種光纖的殘余軸向熱應力的能力，需要購買IFA-100-STRESS選項。
- 基于光纖雙折射對特種光纖的殘余軸向熱應力的2D測量能力，需要購買IFA-100-STRESS和IFA-100-ROT選項。
- 鐿摻雜2D空間分布的測量，需要購買IFM-100-SEM和IFA-100-ROT選項。
- 鉺、銩、鈥摻雜2D空間分布的測量，需要使用IFA-100-IR和購買IFM-100-SEM和IFA-100-ROT選項。
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